【拓斯达在光博会展出光芯片测试装备】财联社记者获悉，拓斯达参股公司来勒光电在第27届光博会（CIOE2026）上首次展出专为激光器芯片量产测试打造的“CHIPTEST芯片测试系统”。据悉，设备可一站式完成芯片光电性能、光谱、发散角等全维度测试，适配DFB、EML等主流芯片品类。